德瑞和梅州市志浩电子科技有限公司合作案例
通过分享德瑞和梅州市志浩电子科技有限公司的成功合作案例,帮助行业企业找到合作的路径和机会。通过双方的 ...
应用对象 | 试验目的 | 试验条件 | 参考标准 |
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分立器件 | 寿命试验 | ≥125℃,试验时间48-168h | JESD22-A108 |
高温反偏试验 | 125℃,150℃或175℃,试验时间168h,500h,1000h | JESD22-A108 | |
高温栅偏试验 | 150℃或175℃,试验时间500h,1000h | JESD22-A108 | |
早期失效等级测试 | 早期失效等级测试 | JESD22-A108-A ElAJED-4701-D101 |
主要包括晶体二极管、三极管、整流二极管、功率二极管、化合物二极管等。分立器件被广泛应用在家电、绿色照明、计算机、汽车电子、网络通讯、工业控制等产品。
温度相关性测试:测试器件在不同温度条件下的电特性和性能变化情况。这有助于评估器件的温度稳定性和可靠性,并为设计工程师提供优化器件操作温度范围的参考依据。
结电容测试:对于二极管和MOSFET等分立器件,结电容是重要的参数。通过测试结电容,可以评估器件在高频应用中的性能和频率响应。
可靠性测试:长期稳定性测试是评估器件可靠性和质量的重要手段。通过对器件进行长时间的监测和测试,可以检测潜在的衰减、失效和老化问题。
承受能力测试:针对高压、大电流等特殊工作条件下的分立器件,需要进行承受能力测试,以评估器件在极端工作条件下的可靠性和安全性。
方案价值
1、验证性能和特性:通过试验可以验证分立器件的性能和特性是否符合规格要求。例如,通过电特性测试可以确保器件在正常工作条件下具有良好的导通特性、耐压能力和正向电阻;恢复时间测试可以评估器件的开关速度和恢复时间等。
2、优化设计和改进:试验结果可用于优化分立器件的设计和改进。通过对不同参数和条件下的试验数据进行分析,可以发现潜在的性能瓶颈和改进空间,从而优化器件的结构、材料或工艺。
3、确保产品质量和一致性:试验是确保分立器件产品质量和一致性的有效手段。通过对每个批次或样品进行试验,可以检测出制造过程中的缺陷和变异,以确保产品符合质量标准和规范要求。
4、提供可靠性评估和寿命预测:长期稳定性测试和可靠性试验可以提供分立器件的寿命预测和可靠性评估。通过对器件在不同工作条件下的长期测试,可以推断出其寿命和可靠性,并为应用中的使用寿命和可靠性要求提供参考依据。
5、优化器件选择和应用:试验结果可以用于优化器件的选择和应用。通过对不同器件样品或不同品牌的比较试验,可以评估器件的性能差异和适用性,从而为特定应用场景选择最合适的分立器件提供依据。